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    Date

    Labo Intervenant Technologie Caractéristiques Remarques - Masque

     

    Si-Mat  

    SOI (5-1-500microns)

    SiN LPCVD (0.5 micron)

       
    02/17 CSNSM LB+LD Evaporation bicouche NbSi-Al

    NbSi : 15.8% 300A

    + Al : 1000 A

     

    %: 15.52   p: 1.2 10-7

    02/17

    CTU SM Enrésinement pour gravure routage

    S1813

    (résine positive)

    Deshydratation 110° 1m

    S1813 + recuit 115° 90s

    02/17 CTU SM Litho

    Aligneur double face

    VACUUM Contact

    QUBIC_250 Routage Peigne

    dose 45 mJ/cm2

    Développement 60s dans

    AZ Developer + EDI (1+1).

    02/17 CTU SM

    Gravure humide Alu

    gravure 2m20s

    (1000A Al)

    Solution aluminium etching

    02/17 CTU SM Retrait résine Acetone Pas de Polypropylène
    02/17 CTU SM Enrésinement pour gravure  NbSi

    S1813

    (résine positive)

    Deshydratation 110° 1m

    S1813 (115° 90s)

    enrésinement tout de suite après la gravure alu

    02/17 CTU SM Litho

    Aligneur double face

    QUBIC_250 NbSi Peigne

    Hard contact

    dose 45 mJ/cm2

    Développement 60s AZ + EDI (1+1)

    Deshydratation 110° 1m

    02/17

    CTU SM

    Gravure XeF2 du NbSi

    30 cycles 15s 3Torr

     

    02/17 CTU SM Retrait résine 10m acétone + ultrasons

    Pas de Polypropylène

    02/17 CTU SM Enrésinement pour lift Grille

    AZ5214

    (inversion d'image / lift-off)

    Deshydratation 110° 1m

    AZ 5214 + récuit 115° 1 min

    02/17 CTU SM Litho

    Aligneur double face

    QUBIC_250 Grille Pd 4-100microns


    1ère inso: 1.5s - recuit 125° 1 min
    2ème inso: 12s - dév 23s AZ+EDI (1:1)

    Deshydratation 110° 1m

     

    02/17 CSNSM LD Evaporation grille Pd épaisseur = 100A effectifs  
    02/17 CTU SM Lift-off acetone + ultrasons Pas de Polypropylène
    02/17 CTU SM

    Enrésinement pour gravure membranes

    face avant

    S1813

    (résine positive)

    Deshydratation 110° 1m

    S1813 (115° 90s)

    02/17 CTU SM

    Litho

    face avant

    Aligneur double face

    Hard Contact

    Membrane_QUBIC-250-V4

    dose 45 mJ/cm2

    Développement 60s AZ + EDI (1+1)

    Deshydratation 110° 1m

    02/17 CTU SM

    Gravure nitrure membrane

    face avant

    Gravure RIE AV

    CHF3 + CF4

    (x sccm, y sccm, zW, wmT)

    35 minutes

    03/03/2017 CTU SM

    Enresinement Face arrière pour

    Deep-RIE Silicium

    AZ4562

    2000 tr/m pour 10microns

    recuit 90°C 1 heure

    Pas d'enresinement face avant
    03/03/2017 CTU SM Litho ICP Silicium face arrière

    Aligneur double face

    masque QUBIC_250_DeepRIE

    dose 280 mJ/cm2 ou 35 s

    Développement 3-4 minutes AZ+EDI (1:1)

    06/03/2017 CTU SM Enresinement protection face avant S1805 recuit 115°C  60''
    06/03/2017 CTU SM Gravure nitrure face arrière Gravure RIE AV

    CHF3 + CF4

    (10 sccm, 42 sccm, 100W, 80mT)

    35 minutes

    06/03/2017 CTU SM ICP Si face arrière

    programme Qubic etch

    Collage sur wafer 4" avec pate thermique

    T=5°C

    06/03/2017 CTU SM ICP SiO2 programme Qubic-ox-1mic

    T=-10°C

    06/03/2017 CTU SM Decollage Wafer nettoyage patte thermique à l'acétone pas d'isopropanole - pas d'éthanol
    06/03/2017 CTU SM Enresinement protection dépots face avant S1805  
    06/03/2017 CTU SM Litho membrane face avant

    Aligneur double face

    soft Contact

    Membrane_QUBIC-250-V4

    dose 45 mJ/cm2

    Développement 60s AZ + EDI (1+1)

    Deshydratation 110° 1m

    06/03/2017 CTU SM XeF2

    3mT, 15s

    Nb cycles :

     
      CTU SM

    netoyage résine face avant

    plasma O2

    RIE AV

    O2

    50sccm, 70W, 70mT 40 minutes

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