Date | Labo | Intervenant | Technologie | Caractéristiques | Remarques - Masque |
| Si-Mat | SOI (5-1-500microns) SiN LPCVD (1 micron) | |||
08/03/16 | CSNSM | LB+LD | Evaporation bicouche NbSi-Al | NbSi : 15.50% 300A + Al : 1000 A |
%: 15.52 p: 2 10-7 |
19/04/16 | CTU | SM | Enrésinement pour gravure routage | (résine positive) | Deshydratation 115° 1m S1813 + Recuit 115° 90s |
19/04/16 | CTU | SM | Litho | Aligneur double face VACUUM Contact QUBIC_250 Routage Peigne | dose 45 mJ/cm2 Développement 60s dans AZ Developer + EDI (1+1). |
20/04/16 | CTU | SM | gravure 2m20s (1000A Al) | Solution aluminium etching | |
20/04/16 | CTU | SM | Retrait résine à l'acétone | Acetone + Polypropylène | |
21/04/16 | CTU | SM | Enrésinement pour gravure NbSi | (résine positive) | Deshydratation 115° 1m S1813 + récuit 115° 90s |
21/04/16 | CTU | SM | Litho | Aligneur double face QUBIC_250 NbSi Peigne | Hard contact, dose 45 mJ/cm2 Dév. 60s AZ + EDI (1+1). |
21/04/16 | CTU | SM | Gravure XeF2 du NbSi | 10 cycles 15s 3Torr (XeF2 sur 6 wafers à la suite : P60-56-57-58-59-61) | Arret de l'attaque manuellement (visuellement le NbSi disparait en cours de 1 à 2 cycles) |
21/04/16 | CTU | SM | Retrait résine | 5m acétone + ultrasons 40°C | Retrait difficile à cause du XeF2 |
02/05/16 | CSNSM | SM | Enrésinement pour lift Grille | Résine positive en inversion d'image / lift-off | Deshydratation 115° 1m AZ 5214 + recuit 115° 1 min |
02/05/16 | CSNSM | SM | Litho | Aligneur double face QUBIC_250 Grille Pd 4-100microns | Hard Contact |
CSNSM | LD | Evaporation grille Pd | épaisseur = | ||
CSNSM | SM | Lift-off | acetone + ultrasons |
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