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PB171025_B
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    Objectifs

    Mesure complète de la dépendance des résonnances en fonction de la largeur des résonateurs.

    Résonateur lambda/4 side-couplé à une ligne de transmission en alu. Forme du coupleur toujours identique (sauf resonateur de 1µm)

    Fabrication

    Wafer

    p-Si

    Date orientation resistivity dopant oxide layer ref. fabricant fournisseur
      100 3kOhm.cm intrinsic no    

     

     

    2*2cm2
    from 2'' wafer (300µm)

    croix d'alignement faites en oct 2017 par litho laser et 

    Doping (IEF le 25/10/16)

    Uniquement 28ns 200t (30ns visées)

    Problème d'homogénéité visible à l'oeil sur environ un tier de chacun des spots.

    Processing 
    1st step: SiB patterns 
    (IEF le 12/12/17)

    - S1813 4000rpm 30s - 115°C 1min30s
    - Litho laser:

    3 chips séparée, dessin tourné de 90° pour suivre axe Y litho laser.

    chip1 = fichier 04_sigec_res17_11_SiB_1.job , chip2 = fichier 04_sigec_res17_11_SiB_2.job , chip3 = fichier 04_sigec_res17_11_SiB_3.job ; layer 3+5 inversée

    tête 4 mm; E = 75 %, filtres 30%x10%; defoc 1900 ; 

    MF-319 28s ; EDI 1min30s

    - RIE STS :

    CHF3 50sccm, SF6 5sccm, 20mTorr, 140W

     

    2nd step: Al feedline (IEF le 12-13/12/17)

    - S1813 4000rpm 30s - 115°C 1min30s

    - Litho laser: 

    3 chips séparée, dessin tourné de 90° pour suivre axe Y litho laser.

    Layer 2+4+6 inversée 

    tête 4 mm; E = 75 %, filtres 30%x10%; defoc 1900 ; offset(13,-24.5)

    MF-319 28s ; EDI 1min30s

    - Evap (SPEC le 20/01/17): 

        Etch Ar 500V 5mA 5s (À VÉRIFIER)
        Evap Ti 5nm @ 0.5nm/s (À VÉRIFIER)
        Evap Al  200nm @ 1nm/s (À VÉRIFIER)

    - lift-off (SPEC le 14/01/17)

    Remover 20 à 30min

    - chip clivée par Hélène (SPEC le 14/01/17) 

     

    Measurements (CSNSM)

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