- taille des substrats jusqu’à 150 mm |
cf http://www.ief.u-psud.fr/ief/ief.nsf...uipement5.html |
Obtention brevet: Contacter Benoît Belier http://www.ief.u-psud.fr/ief/ief.nsf.../CTU_annu.html
2 XeF2+Si -> 2 Xe + SiF4
Il y a des traces de SiF, SiF3, SiF2 et SiF6
La réaction est exothermique : la température du substrat augment d'un dizaine à une centaine de degré.
La gravure est isotrope:
XeF2 est un solide blanc à température et pression atmosphérique. Il se sublime aux environ de 4 Torr.
XeF2 et vapeur d'eau : XeF2 forme HF en présence de vapeur d'eau. Plusieurs conséquences : Conséquences sur le matériel et les précautions à prendre lors de la maintenance : "The exhaust from teh vacuum pump should be connected to an acid scrubber" Maintenance du joint tout les 2ans max (en fonction de l'utilisation du bâti)
Conséquences sur la gravure : Il se forme un composé blanc à la surface à graver qui peux ralentir ou même stopper la gravure. Cela s'est déjà produit plusieurs fois : cf QUBIC_test3. Pour prévenir ce problème un recuit avant gravure est une solution efficace.
Fichier | Taille | Date | Attaché par | |||
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Controlled pulse-etching with XeF2(2).pdf Aucune description | 317.59 Ko | 11:13, 23 Sep 2013 | anne_aelle_drillien | Actions | ||
XeF2_Unique.pdf Aucune description | 229.92 Ko | 11:11, 23 Sep 2013 | anne_aelle_drillien | Actions |
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